走査型電子顕微鏡（SEM）

日本電子 製	JXA-840
陶磁器やファインセラミックス製品の表面・断面、または原料粉末を立体的に観察し、形状や組織の評価を行います。試料に含まれている元素の定性分析・定量分析にも役立ちます。